This HTML5 document contains 18 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

PrefixNamespace IRI
category-eshttp://es.dbpedia.org/resource/Categoría:
dcthttp://purl.org/dc/terms/
wikipedia-eshttp://es.wikipedia.org/wiki/
dbohttp://dbpedia.org/ontology/
foafhttp://xmlns.com/foaf/0.1/
dbpedia-eshttp://es.dbpedia.org/resource/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
n10http://es.wikipedia.org/wiki/Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_X?oldid=126892912&ns=
n12http://rdf.freebase.com/ns/m.
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
owlhttp://www.w3.org/2002/07/owl#
provhttp://www.w3.org/ns/prov#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
dbrhttp://dbpedia.org/resource/
Subject Item
wikipedia-es:Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_X
foaf:primaryTopic
dbpedia-es:Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_X
Subject Item
dbpedia-es:Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_X
rdfs:label
Espectroscopia de fotoelectrones emitidos por rayos X
rdfs:comment
La espectrometría fotoelectrónica X o espectrometría de fotoelectrones inducidos por rayos X (en inglés, X-Ray photoelectron spectrometry, o XPS) es un método de espectrometría fotoelectrónica que implica la medición de los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material.
owl:sameAs
n12:0jb6n
dct:subject
category-es:Años_1960_en_Suecia category-es:Física_molecular category-es:Tipos_de_espectroscopia category-es:Química_de_superficies category-es:Universidad_de_Upsala category-es:Ciencia_y_tecnología_de_Suecia
foaf:isPrimaryTopicOf
wikipedia-es:Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_X
dbo:wikiPageID
715277
dbo:wikiPageRevisionID
126892912
dbo:wikiPageLength
8125
prov:wasDerivedFrom
n10:0
dbo:abstract
La espectrometría fotoelectrónica X o espectrometría de fotoelectrones inducidos por rayos X (en inglés, X-Ray photoelectron spectrometry, o XPS) es un método de espectrometría fotoelectrónica que implica la medición de los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material. Los espectros XPS son obtenidos cuando una muestra es irradiada por rayos X (habitualmente el ánodo puede ser de Al o Mg) al tiempo que se mide la energía cinética y el número de electrones que escapan de la superficie del material analizado. Para una medición de XPS se requieren condiciones de ultra-alto vacío debido a que a presiones mayores la tasa de adsorción de contaminación sobre la muestra puede ser del orden de varias monocapas atómicas por segundo, impidiendo la medición de la superficie que realmente se quiere analizar. Fue desarrollada en la Universidad de Upsala (Suecia) en la década de 1960, bajo la dirección de Kai Siegbahn, lo que le valió el premio Nobel en 1981. El método anteriormente se llamaba espectroscopia electrónica para análisis químico o ESCA (en inglés, electron spectroscopy for chemical analysis).
Subject Item
dbpedia-es:Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_x
dbo:wikiPageRedirects
dbpedia-es:Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_X
Subject Item
dbr:X-ray_photoelectron_spectroscopy
owl:sameAs
dbpedia-es:Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_X