La litografía ultravioleta extrema (también conocida como UVE, EUVL o UVEL) es una tecnología de litografía que utiliza una gama de longitudes de onda ultravioleta extrema (EUV), que abarca aproximadamente un ancho de banda de 2% FWHM de aproximadamente 13,5 nm.​​​​

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  • La litografía ultravioleta extrema (también conocida como UVE, EUVL o UVEL) es una tecnología de litografía que utiliza una gama de longitudes de onda ultravioleta extrema (EUV), que abarca aproximadamente un ancho de banda de 2% FWHM de aproximadamente 13,5 nm.​​​​ Si bien la tecnología EUV está disponible para la producción en masa, menos de cincuenta máquinas en todo el mundo son capaces de producir obleas utilizando la técnica;​ en comparación, a partir de 2013, más de 200 sistemas de inmersión en Litografía Ultravioleta Profunda (DUV) ya estaban implementados.​ A partir del tercer trimestre de 2019, 5,7 millones de obleas han sido expuestas en herramientas de producción de EUV; Se expusieron 1,7 millones de obleas solo en Q1-Q3, mientras que el número de herramientas aumentó de 31 a 45 (del orden de 10 WPH por herramienta).​ Los problemas que dificultan la adopción de EUV son los costos de las herramientas (los escáneres EUV de ASML pueden costar hasta US $120 millones​​), tiempo de actividad de la herramienta y fenómenos estocásticos.​ (es)
  • La litografía ultravioleta extrema (también conocida como UVE, EUVL o UVEL) es una tecnología de litografía que utiliza una gama de longitudes de onda ultravioleta extrema (EUV), que abarca aproximadamente un ancho de banda de 2% FWHM de aproximadamente 13,5 nm.​​​​ Si bien la tecnología EUV está disponible para la producción en masa, menos de cincuenta máquinas en todo el mundo son capaces de producir obleas utilizando la técnica;​ en comparación, a partir de 2013, más de 200 sistemas de inmersión en Litografía Ultravioleta Profunda (DUV) ya estaban implementados.​ A partir del tercer trimestre de 2019, 5,7 millones de obleas han sido expuestas en herramientas de producción de EUV; Se expusieron 1,7 millones de obleas solo en Q1-Q3, mientras que el número de herramientas aumentó de 31 a 45 (del orden de 10 WPH por herramienta).​ Los problemas que dificultan la adopción de EUV son los costos de las herramientas (los escáneres EUV de ASML pueden costar hasta US $120 millones​​), tiempo de actividad de la herramienta y fenómenos estocásticos.​ (es)
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  • Banqiu Wu and Ajay Kumar (es)
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  • May 2009 (es)
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  • McGraw-Hill Professional, Inc. (es)
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  • Litografía Ultravioleta Extrema (es)
  • Litografía ultravioleta extrema: hacia la próxima generación de circuitos integrados (es)
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  • Litografía ultravioleta extrema (es)
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