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- La espectrometría fotoelectrónica X o espectrometría de fotoelectrones inducidos por rayos X (en inglés, X-Ray photoelectron spectrometry, o XPS) es un método de espectrometría fotoelectrónica que implica la medición de los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material. Los espectros XPS son obtenidos cuando una muestra es irradiada por rayos X (habitualmente el ánodo puede ser de Al o Mg) al tiempo que se mide la energía cinética y el número de electrones que escapan de la superficie del material analizado. Para una medición de XPS se requieren condiciones de ultra-alto vacío debido a que a presiones mayores la tasa de adsorción de contaminación sobre la muestra puede ser del orden de varias monocapas atómicas por segundo, impidiendo la medición de la superficie que realmente se quiere analizar. Fue desarrollada en la Universidad de Upsala (Suecia) en la década de 1960, bajo la dirección de Kai Siegbahn, lo que le valió el premio Nobel en 1981. El método anteriormente se llamaba espectroscopia electrónica para análisis químico o ESCA (en inglés, electron spectroscopy for chemical analysis). (es)
- La espectrometría fotoelectrónica X o espectrometría de fotoelectrones inducidos por rayos X (en inglés, X-Ray photoelectron spectrometry, o XPS) es un método de espectrometría fotoelectrónica que implica la medición de los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material. Los espectros XPS son obtenidos cuando una muestra es irradiada por rayos X (habitualmente el ánodo puede ser de Al o Mg) al tiempo que se mide la energía cinética y el número de electrones que escapan de la superficie del material analizado. Para una medición de XPS se requieren condiciones de ultra-alto vacío debido a que a presiones mayores la tasa de adsorción de contaminación sobre la muestra puede ser del orden de varias monocapas atómicas por segundo, impidiendo la medición de la superficie que realmente se quiere analizar. Fue desarrollada en la Universidad de Upsala (Suecia) en la década de 1960, bajo la dirección de Kai Siegbahn, lo que le valió el premio Nobel en 1981. El método anteriormente se llamaba espectroscopia electrónica para análisis químico o ESCA (en inglés, electron spectroscopy for chemical analysis). (es)
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- La espectrometría fotoelectrónica X o espectrometría de fotoelectrones inducidos por rayos X (en inglés, X-Ray photoelectron spectrometry, o XPS) es un método de espectrometría fotoelectrónica que implica la medición de los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material. (es)
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- Espectroscopia de fotoelectrones emitidos por rayos X (es)
- Espectroscopia de fotoelectrones emitidos por rayos X (es)
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