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dbo:abstract "La espectrometr\u00EDa fotoelectr\u00F3nica X o espectrometr\u00EDa de fotoelectrones inducidos por rayos X (en ingl\u00E9s, X-Ray photoelectron spectrometry, o XPS) es un m\u00E9todo de espectrometr\u00EDa fotoelectr\u00F3nica que implica la medici\u00F3n de los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resoluci\u00F3n espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometr\u00EDa (con un error del 10% aproximadamente), y la estructura electr\u00F3nica de los elementos que existen en un material. Los espectros XPS son obtenidos cuando una muestra es irradiada por rayos X (habitualmente el \u00E1nodo puede ser de Al o Mg) al tiempo que se mide la energ\u00EDa cin\u00E9tica y el n\u00FAmero de electrones que escapan de la superficie del material analizado. Para una medici\u00F3n de XPS se requieren condiciones de ultra-alto vac\u00EDo debido a que a presiones mayores la tasa de adsorci\u00F3n de contaminaci\u00F3n sobre la muestra puede ser del orden de varias monocapas at\u00F3micas por segundo, impidiendo la medici\u00F3n de la superficie que realmente se quiere analizar. Fue desarrollada en la Universidad de Upsala (Suecia) en la d\u00E9cada de 1960, bajo la direcci\u00F3n de Kai Siegbahn, lo que le vali\u00F3 el premio Nobel en 1981. El m\u00E9todo anteriormente se llamaba espectroscopia electr\u00F3nica para an\u00E1lisis qu\u00EDmico o ESCA (en ingl\u00E9s, electron spectroscopy for chemical analysis)."@es .